10: Продуктивність пристрою
- Page ID
- 18634
\( \newcommand{\vecs}[1]{\overset { \scriptstyle \rightharpoonup} {\mathbf{#1}} } \) \( \newcommand{\vecd}[1]{\overset{-\!-\!\rightharpoonup}{\vphantom{a}\smash {#1}}} \)\(\newcommand{\id}{\mathrm{id}}\) \( \newcommand{\Span}{\mathrm{span}}\) \( \newcommand{\kernel}{\mathrm{null}\,}\) \( \newcommand{\range}{\mathrm{range}\,}\) \( \newcommand{\RealPart}{\mathrm{Re}}\) \( \newcommand{\ImaginaryPart}{\mathrm{Im}}\) \( \newcommand{\Argument}{\mathrm{Arg}}\) \( \newcommand{\norm}[1]{\| #1 \|}\) \( \newcommand{\inner}[2]{\langle #1, #2 \rangle}\) \( \newcommand{\Span}{\mathrm{span}}\) \(\newcommand{\id}{\mathrm{id}}\) \( \newcommand{\Span}{\mathrm{span}}\) \( \newcommand{\kernel}{\mathrm{null}\,}\) \( \newcommand{\range}{\mathrm{range}\,}\) \( \newcommand{\RealPart}{\mathrm{Re}}\) \( \newcommand{\ImaginaryPart}{\mathrm{Im}}\) \( \newcommand{\Argument}{\mathrm{Arg}}\) \( \newcommand{\norm}[1]{\| #1 \|}\) \( \newcommand{\inner}[2]{\langle #1, #2 \rangle}\) \( \newcommand{\Span}{\mathrm{span}}\)
- 10.1: Простий випробувальний апарат для перевірки фотовідповіді експериментальних фотоелектричних матеріалів та прототипів сонячних елементів
- Однією з проблем, пов'язаних з тестуванням нового недоведеного фотоелектричного матеріалу або конструкції елементів, є те, що необхідна значна обробка для створення повністю функціонуючої сонячної батареї. При бажанні екранування широкого спектру матеріалів або синтетичних умов це може зайняти багато часу (і дорого дослідницьких фондів) для підготовки повністю функціонуючих пристроїв. Крім того, успіх кожної окремої клітини може бути більшою мірою залежати від етапів виготовлення, не пов'язаних з досліджуваними варіаціями.
- 10.2: Вимірювання ключових транспортних властивостей пристроїв FET
- Оскільки наукові інтереси починають зосереджуватися на поступово менших розмірах, потреба в нанорозмірних методах характеризації спостерігається різке зростання попиту. Крім того, широкий спектр нанотехнологій у всіх галузях науки увічнив застосування методів характеризації до безлічі дисциплін. Подвійна поляризаційна інтерферометрія (DPI) є прикладом методики, розробленої для вирішення конкретної проблеми, але була розширена та використана для характеристики полів, розташованих на поверхні