4.7: Посилання

[1] Р.Хакборн, «Автоматична система аналізатора мережі» Мікрохвильовий журнал, стор. 45—52, травень 1968 р.

[2] http://www.ggb.com.

[3] G. Engen and C. Hoer, «Через відбивну лінію: вдосконалена техніка калібрування подвійного шестипортового автоматичного аналізатора мережі», IEEE Trans. з мікрохвильової теорії та техніки, vol. 27, no. 12, pp. 987—993, грудень 1979.

[4] S. Goldberg, М. Steer, P. Franzon та J. Kasten, «Експериментальна електрична характеристика міжз'єднань та розривів у високошвидкісних цифрових системах», IEEE Trans. про компоненти, гібриди та технології виробництва, vol. 14, no. 4, pp. 761—765, грудень 1991.

[5] М. Steer, S. Goldberg, Г. Рінне, П. Франзон, I. Турлік, і J. Kasten, «Впроваджуючи процедуру девбудовування через лінію», в 1992 IEEE MTT-S Int. Мікрохвильова піч Symp. Копати. , Червень 1992, с. 1455—1458.

[6] Дж. Хантон, «Аналіз мікрохвильових вимірювальних методів за допомогою графіків потоку сигналу,» IRE Trans. з мікрохвильової теорії та техніки, vol. 8, no. 2, pp. 206—212, Mar. 1960.

[7] J. Fitzpatrick, «Моделі помилок для вимірювання систем» Мікрохвильовий журнал, стор. 63—66, травень 1978.

[8] Салех А.М., «Явні формули корекції помилок у мікрохвильових вимірювальних наборах із перемиканням залежних портів», IEEE Trans. з приладобудування та вимірювання, vol. 28, no. 1, pp. 67—71, Mar. 1979.

[9] H.Shurmer, «Процедура калібрування для комп'ютерно-виправленої характеристики параметрів пристроїв, встановлених у мікросмужці», Electronics Letters, vol. 9, no. 14, pp. 323—324, 12 1973.

[10] Де-вбудовування та вбудовування мереж S-параметрів за допомогою векторного мережевого аналізатора, травень 2004, agilent Примітка щодо застосування 1363—1.

[11] Дж. Батлер, Д. Ріттінг, М. Іскандер, Р. Поллард, і М. Ванден Босше, «16-строкова модель помилок та процедура калібрування для вимірювань аналізу мережі на пластині,» IEEE Trans. з мікрохвильової теорії та техніки, vol. 39, no. 12, pp. 2211—2217, грудень 1991.

[12] Б'янко, М. Пароді, С. Ріделла, і Ф.Ф. Сельваджі, «Пускова установка та мікросмужкова характеристика», IEEE Trans. на приладобудування та вимірювання, вип. 25, немає. 4, стор. 320—323, грудень 1976.

[13] C. Hoer, «Вибір довжини ліній для калібрування мережевих аналізаторів,» IEEE Trans. з теорії та техніки мікрохвильової печі, vol. 31, no. 1, pp. 76—78, Jan 1983.

[14] C. A Hoer, «Деякі питання та відповіді, що стосуються повітряних ліній як стандартів імпедансу», у 29-й ARFTG Conf. Дайджест Весна, т. 11, Червень 1987, с. 161—173.

[15] P. Buff, «Характеристика поширення на дротах над землею з втратами», кандидатська дисертація, Університет штату Північна Кароліна, 2006.

[16] P. Buff, J Nath, and M. Steer, «Походження похибок півхвилі в мікрохвильових вимірах за допомогою наскрізних калібрувань», IEEE Trans. на приладобудування та вимірювання, т. 56, no. 5, pp. 1610—1615, жовтень 2007.

[17] Маркс, «Багатолінійний метод калібрування мережевого аналізатора,» IEEE Trans. з теорії та техніки мікрохвильової печі, vol. 39, no. 7, pp. 1205—1215, Jul. 1991.

[18] D.Williams, «Де-вбудовування та припинення мікрохвильових світильників з нелінійними найменшими квадратами», IEEE Trans. з теорії та техніки мікрохвильової печі, vol. 38, no. 6, pp. 787—791, Jun. 1990.

[19] N.R. Franzen та R.A. Speciale, «Нова процедура калібрування системи та усунення помилок при автоматизованих вимірюваннях s-параметрів» у 5-й Європейській мікрохвильовій конф. , вер. 1975 р., с. 69—73.

[20] Дж. Бенет, «Конструкція та калібрування універсального випробувального приладу MMIC,» в Мікрохвильові та міліметрові хвильові монолітні схеми, vol. 82, no. 1, Jun. 1982, pp. 36—41.

[21] С.Р. Пеннок, К.М. D. Rycroft, P.R. Shepherd, і T. Rozzi, «Перехідна характеристика для цілей де-вбудовування» в 17-й Європейській мікрохвильовій конф. , вер. 1987, с. 355— 360.

[22] W. Eisenstadt and Y.Eo, «Характеристика міжзв'язкової лінії електропередачі на основі S-параметрів» IEEE Trans. про компоненти, гібриди та технології виробництва, вип. 15, ні. 4, с. 483—490, серпень 1992.

[23] Yungseon Eo, W. Eisenstadt та Jongin Shim, «S-параметр вимірювання на основі високошвидкісного сигналу перехідних характеристик vlsi міжз'єднань на підкладці sio2-si», IEEE Trans. на розширеній упаковці, вип. 23, № 3, с. 470—479, серпень 2000.

[24] Yungseon Eo та W. Айзенштадт, «Високошвидкісне моделювання взаємозв'язків vlsi на основі вимірювань s-параметрів,» IEEE Trans. про компоненти, гібриди та технології виробництва, вип. 16, № 5, стор. 555—562, серпень 1993.

[25] Р.Амаудов і Р.Борисов, «Вилучення ефективної діелектричної проникності в лініях електропередачі на багатошарових підкладках на основі S-параметрів» в Телекомунікаційному форумі (ТЕЛФОР), 2011 19 листопада 2011 р., с.900—903.